Chambre de test haute et basse température pour CSSD/ESSD

Cette chambre a été développée pour les applications où la précision thermique et la répétabilité sont essentielles. Elle permet d’effectuer des essais à haute et basse température sur des composants de stockage tout en conservant une maîtrise fine de l’environnement. Son architecture réduit les effets parasites liés aux variations rapides et améliore la fiabilité des résultats.

Un soin particulier a été apporté au maintien des conditions de test pendant les phases les plus sensibles. L’alimentation peut être interrompue durant les essais à basse température afin de stabiliser la montée en température de la puce et d’éviter que l’auto-chauffement ne perturbe la mesure. Cette logique de fonctionnement est particulièrement utile pour les validations CSSD/ESSD où la qualité du protocole influence directement la pertinence des données.

La chambre intègre également un système de déshumidification active et un dispositif anti-condensation pour accompagner les transitions entre basses et hautes températures. Elle offre ainsi une plateforme de test plus stable, mieux adaptée aux contrôles continus et aux campagnes de qualification des composants de stockage.

• Modèles : SM-GA300-NV016H5EF et SM-GA300-NV016L5CF.

• Plage de température :

  • 0 °C à +85 °C.

  • -45 °C à +125 °C.

• Uniformité de température : ≤ 3 °C.

• Charge : 4 kg.

• Dimensions de la chambre intérieure : 310 x 500 x 280 mm ou 310 x 500 x 300 mm.

• Dimensions de la chambre extérieure : 750 x 1950 x 1697 mm ou 1500 x 1760 x 1539 mm.

• Essais sur CSSD.

• Essais sur ESSD.

• Validation de composants de stockage.

• Tests en haute et basse température.

• Qualification des comportements thermiques en charge.