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Kit complet d’expérimentation XRF EXP-2
HTDS propose le kit complet d’expérimentation XRF EXP‑2, conçu par Amptek pour rendre l’analyse élémentaire par fluorescence X accessible, modulable et pédagogique.
HTDS propose le kit complet d’expérimentation XRF EXP‑2 – Amptek, regroupant dans un seul ensemble le spectromètre X‑123 (SDD ou Si‑PIN), le tube à rayons X Mini‑X2, une enceinte blindée
Caractéristiques
Ensemble complet pour démarrer rapidement l’analyse élémentaire par fluorescence X (EDXRF) avec matériel et logiciel Amptek.
Spectromètre X‑123 au choix avec détecteur Fast SDD™ ou Si‑PIN, incluant électronique de traitement numérique DP5.
Tube à rayons X Mini‑X2 contrôlé en USB, avec kit de collimation et filtres adapté au support EXP‑2.
Enceinte mécanique EXP‑2 intégrant blindage, chambre d’échantillons, interverrouillages de sécurité, alarmes visuelles et sonores.
HTDS propose le kit EXP‑2 comme point de départ idéal pour les utilisateurs souhaitant réaliser des mesures XRF dispersives en énergie (EDXRF) sans développer eux‑mêmes toute l’instrumentation. Le kit regroupe le spectromètre compact X‑123 (incluant détecteur SDD rapide ou Si‑PIN et électronique DP5), le tube Mini‑X2 pilotable en USB, l’enceinte mécanique EXP‑2 avec blindage intégré, interverrouillages de sécurité et chambre d’échantillons, ainsi que le logiciel de traitement XRF‑FP/XRS‑FP2 pour l’acquisition et la quantification. Une fois l’ensemble assemblé, le logiciel installé et la calibration réalisée à l’aide de l’échantillon inox SS316 fourni, l’utilisateur peut commencer à acquérir des spectres et à réaliser des analyses élémentaires simples.
Contrairement à un système entièrement « prêt à l’emploi », le kit EXP‑2 est volontairement généraliste et modulaire : il fournit tous les composants matériels et logiciels nécessaires à la XRF, mais laisse à l’utilisateur la liberté d’optimiser la géométrie, les paramètres du tube, les réglages du processeur de signaux et les modèles de quantification pour adapter la configuration à ses propres échantillons. Il constitue ainsi un excellent outil pour le prototypage de systèmes OEM, la formation en physique des rayonnements ou l’étude de nouveaux protocoles analytiques, tout en intégrant les aspects critiques de sécurité radiologique (blindage autour de la chambre, interverrouillages, alarmes visuelles et sonores).
Contenu matériel : spectromètre X‑123 (SDD ou Si‑PIN), tube Mini‑X2 et contrôleur, fixture mécanique EXP‑2 avec blindage et plateau échantillons, collimateur et kit filtres, câbles USB et alimentations, échantillon SS316.
Fonctionnalités de sécurité : blindage autour de la chambre d’échantillons, interverrouillages de sécurité, alarmes visuelles et audio, recommandations strictes d’assemblage et d’exploitation.
Logiciel : XRF‑FP/XRS‑FP2 pour configuration, acquisition, traitement et quantification XRF, avec assistant (« wizard ») de mise en route.
PC requis : ordinateur Windows récent (Windows 7 ou ultérieur) avec plusieurs ports USB disponibles pour le X‑123 et le Mini‑X2.
Usage prévu : kit généraliste pour EDXRF, nécessitant assemblage, configuration et calibration par l’utilisateur avant utilisation de routine.
Mise en place d’une station XRF de laboratoire pour l’analyse élémentaire de matériaux métalliques, minéraux ou autres solides.
Enseignement et formation à la spectrométrie XRF, à la détection X et à la physique des rayonnements.
Prototypage OEM de systèmes XRF intégrés, en utilisant le kit comme base de développement pour des instruments personnalisés.
Études R&D sur l’optimisation des géométries, filtres, paramètres de tube et algorithmes de traitement en XRF.